Strukturanalyse mit Röntgenstrahlen nach Debye-Scherrer

Strukturanalyse mit Röntgenstrahlen nach Debye-Scherrer

Das Debye-Scherrer-Verfahren ist ein Verfahren zur Kristallstrukturanalyse. In diesem Versuch werden grundlegende Methoden zur Strukturbestimmung angewandt und unbekannte Proben anhand ihrer Diffraktogramme bestimmt.

Leider kann dieser Versuch noch nicht angeboten werden, da sich die Inbetriebnahme und TÜV-Abnahme nach dem Umzug der FP-Versuche verzögert. Sobald diese durchgeführt sind, wird der Versuch wieder freigegeben.

Literatur

Eine Literaturmappe zum Versuch ist erhältlich im Studienzentrum Physik, Gebäude S2|06

  1. N.W. Ashcroft und N.D. Mermin, Solid State Physics, Kap. 4, 5 und 6
  2. C. Kittel, Einführung in die Festkörperphysik (engl. Originaltitel: Introduction to Solid State Physics), Kap. 1 und 2

Weiterführende Literatur

  • H. Neff, Grundlagen und Anwendungen der Röntgenfeinstrukturanalyse
  • B.D. Cullity, Elements of X-Ray Diffraction
  • E.E. Warren, X-Ray Diffraction